一、探針的定義

探針，英文Test probe，是電測試的接觸媒介，為高端精密型電子五金元器件。探針包括測試探針、半導體探針、ICT探針、高頻探針、高電流探針、電池接觸探針等。

二、探針的分類

探針分類 探針根據電子測試用途可分為：

A、光電路板測試探針：未安裝元器件前的電路板測試和只開路、短路檢測探針，國內大部分的探針產品均可替代進口產品；

B、在線測試探針：PCB線路板安裝元器件后的檢測探針；高端產品的核心技術還是掌握在國外公司手中，國內部分探針產品已研發成功，可替代進口探針產品；

C、微電子測試探針：即晶圓測試或芯片IC檢測探針，核心技術還是掌握在國外公司手中，國內生產廠商積極參與研發，但只有一小部分成功生產。 探針主要類型：懸臂探針和垂直探針。

懸臂探針：劈刀型（Blade Type）和環氧樹脂型（Epoxy Type） 垂直探針：垂直型（Vertical Type）

1.ICT探針　（ICT series Probes) 一般直徑在2.54mm-1.27mm之間，有業內的標準稱呼100mil,75mil,50mil,還有更特別的直徑只有0.19mm,主要用于在線電路測試和功能測試．也稱ICT測試和FCT測試．也是目應用較多的一種探針．

2.界面探針(Interface Probes) 非標準的探針，一般是為少數做大型測試機臺的客戶定做的，例如泰瑞達（Teradyne)和安捷倫（Agilent)．用于測試機臺與測試夾具的接觸點和面．

3.微型探針（MicroSeries Probes) 兩個測試點中心間距一般為0.25mm至0.76mm．

4.開關探針（Switch Probes) 開關探針單獨一支探針有兩路電流．

5.高頻探針（Coaxial Probes) 用于測試高頻信號，有帶屏蔽圈的可測試10GHz以內的和500MHz不帶屏蔽圈的．

6.旋轉探針（Rotator Probes) 彈力一般不高，因為其穿透性本來就很強，一般用于OSP處理過的PCBA測試．

7.高電流探針（High Current Probes) 探針直徑在2.54mm-4.75mm之間．最大的測試電流可達39amps.

8.半導體探針 (Semiconductor Probes) 直徑一般在0.50mm-1.27mm之間．帶寬大于10GHz,50Ω characteristic

9.電池接觸探針 (Battery and Connector Contacts) 一般用于優化接觸效果，穩定性好和壽命長．

10.汽車線束測試測試探針 專業用于汽車線束通斷檢測，直徑在1.0--3.5mm之間，電流在3----50A 除以上類型外還有溫度探針，Kelvin探針等，比較少用．